MX63和MX63L顯微鏡

MX63和MX63L顯微鏡用于材料學(xué)的配置：

1、BX53M反射和反射/透射觀(guān)察BX53M IR觀(guān)察BX3M系列有兩種顯微鏡機架，一種僅用于反射光，一種用于反射光和透射光組合。兩種機架都可配置手動(dòng)、編碼或電動(dòng)部件，并且都配備有ESD防靜電功能。

2、BX53M IR觀(guān)察BX3M系列有兩種顯微鏡機架，一種僅用于反射光，一種用于反射光和透射光組合。兩種機架都可配置手動(dòng)、編碼或電動(dòng)部件，并且都配備有ESD防靜電功能。IR物鏡可用于透過(guò)硅材料成像，進(jìn)行半導體檢查和測量。配備了5倍到100倍紅外（IR）物鏡，提供了從可見(jiàn)光波長(cháng)到近紅外的像差校正。對于高放大倍率的物鏡，配備了LCPLN-IR系列帶校正環(huán)的物鏡，校正由樣品厚度導致的像差。使用一個(gè)物鏡即可獲取清晰的圖像

3、BX53M偏光顯微鏡具有鮮明的偏光成像，是地質(zhì)學(xué)家的理想之選。比如礦物鑒定、晶體光學(xué)特性的分析和巖石薄片的鑒定等各種研究，都得益于穩定的顯微鏡系統性和精密的光學(xué)系統。

MX63和MX63L顯微鏡系統支持檢測尺寸達300毫米的晶圓、平板顯示器、印刷電路板以及其他樣品的質(zhì)量。這些符合人體工學(xué)設計的人性化系統采用模塊化設計，可在各種應用中實(shí)現理想的觀(guān)察條件。結合奧林巴斯Stream圖像分析軟件使用時(shí)，從觀(guān)察到生成報告的整個(gè)檢測流程更簡(jiǎn)潔直觀(guān)。

滿(mǎn)足電子行業(yè)需求：

應用反射光顯微鏡在很多應用和行業(yè)中普遍應用。以下是采用不同的觀(guān)察方法所達到的一些效果示例。

暗場(chǎng)/MIX、熒光/MIX、投射/MIX、微分干涉、偏光紅外（IR)